光學(xué)膜厚監控儀
HOM1-1
高精度光學(xué)膜厚監控儀
用于DWDM成膜用真空鍍膜系統的膜厚控制。
- 特征
- 高NA值光學(xué)系統和低噪音電路設計,實(shí)現低噪音,相對值達到 +0.01%
- 應用高分解能分光光學(xué)系,波長(cháng)分解能達到0.08nm(1550nm)
- 使用鹵素燈光源,使用波長(cháng)范圍1100nm-1700nm
- 運用先進(jìn)的成膜計算控制技術(shù),光透過(guò)率的極值監控能力可達+0.01%
- 規格
- 型號 HOM1-1
- 波長(cháng)帶域 1100nm - 1700nm
- 波長(cháng)分解能 0.08nm
- 光亮設定分解能 0.001%
- 光源 鹵素燈
- 電源 AC100V±10%, 50/60Hz
- 消費電力 600VA