光學(xué)膜厚監控儀

HOM1-1

高精度光學(xué)膜厚監控儀

用于DWDM成膜用真空鍍膜系統的膜厚控制。

特征
高NA值光學(xué)系統和低噪音電路設計,實(shí)現低噪音,相對值達到 +0.01%
應用高分解能分光光學(xué)系,波長(cháng)分解能達到0.08nm(1550nm)
使用鹵素燈光源,使用波長(cháng)范圍1100nm-1700nm
運用先進(jìn)的成膜計算控制技術(shù),光透過(guò)率的極值監控能力可達+0.01%
規格
型號 HOM1-1
波長(cháng)帶域 1100nm - 1700nm
波長(cháng)分解能 0.08nm
光亮設定分解能 0.001%
光源 鹵素燈
電源 AC100V±10%, 50/60Hz
消費電力 600VA