光學(xué)膜厚監控儀

HOM2 Series

高精度光學(xué)膜厚監控儀

是用于鍍制增透膜及各種光學(xué)濾光片的真空鍍膜系統的膜厚控制。

特征
高穩定性光纖光學(xué)系統和超低噪音電路設計,實(shí)現+0.001%超低噪音
測光方式 對應透射、反射可選
運用先進(jìn)的成膜計算控制技術(shù),光透過(guò)率的極值監控能力可達+0.05%
規格
測定區分 反射式
可視域膜厚計
透過(guò)式
可視域膜厚計
反射式
近赤外域膜厚計
透過(guò)式
近赤外域膜厚計
型號 HOM2-R-
VIS350
HOM2-T-
VIS350
HOM2-R-
IR900
HOM2-T-
IR900
波長(cháng)帶域 350nm ~ 1100nm 900nm ~ 2400nm
光源 鹵素燈 鹵素燈
電源 AC100V±10%, 50/60Hz