光學(xué)膜厚監控儀
HOM2 Series
高精度光學(xué)膜厚監控儀

是用于鍍制增透膜及各種光學(xué)濾光片的真空鍍膜系統的膜厚控制。
- 特征
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高穩定性光纖光學(xué)系統和超低噪音電路設計,實(shí)現+0.001%超低噪音
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測光方式 對應透射、反射可選
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運用先進(jìn)的成膜計算控制技術(shù),光透過(guò)率的極值監控能力可達+0.05%
- 規格
- 測定區分 反射式可視域膜厚計 透過(guò)式可視域膜厚計 反射式近赤外域膜厚計 透過(guò)式近赤外域膜厚計
- 型號 HOM2-R-VIS350 HOM2-T-VIS350 HOM2-R-IR900 HOM2-T-IR900
- 波長(cháng)帶域 350nm ~ 1100nm 900nm ~ 2400nm
- 光源 鹵素燈 鹵素燈
- 電源 AC100V±10%, 50/60Hz